0

Reliability studies of GaN High Electron Mobility Transistors

Ambacher, Oliver /
Erschienen am 29.06.2015
CHF 59,50
(inkl. MwSt.)

Nachfragen

In den Warenkorb
Bibliografische Daten
ISBN/EAN: 9783839608975
Sprache: Englisch
Umfang: 172
Format (T/L/B): 21.0 x 14.0 cm
Auflage: 1. Auflage

Zusätzliche Informationen

Zurzeit sind keine weiteren Informationen zu diesem Artikel vorhanden.

Weitere Artikel aus der Kategorie "Technik"

Alle Artikel anzeigen