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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon

Computational Microelectronics

Erschienen am 01.11.2012, Auflage: 1. Auflage
CHF 382,00
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Bibliografische Daten
ISBN/EAN: 9783709172049
Sprache: Englisch

Beschreibung

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon. Besides compiling the structures, energetic properties, identified electrical levels and spectroscopic signatures, and the diffusion behaviour from investigations, it gives a comprehensive introduction into the relevant fundamental concepts.

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